porta de exibição
Conector da Porta de Exibição
● Especificações do produto
| Avaliação atual: | 0,5 A | ||||||||
| Classificação de tensão: | CA 40 V | ||||||||
| Contato de resistência: | Contato: 30mΩ Max. Shell: 50mΩ Max. | ||||||||
| Temperatura de operação: | -20℃~+85℃ | ||||||||
| Resistência de isolamento: | 100MΩ | ||||||||
| Tensão Suportada | 500 V CA/60 S | ||||||||
| Temperatura Máx. de Processamento: | 260 ℃ por 10 segundos | ||||||||
| Material de contato: | Liga de cobre | ||||||||
| Material da carcaça: | Termoplástico de alta temperatura.UL 94V-0 | ||||||||
● Desenhos dimensionais
● ESCOPO
Esta especificação de produto abrange os requisitos de desempenho mecânico, elétrico e ambiental e os métodos de teste para produtos da série de conectores Display Port com passo de 1,0 mm.
● PROJETO, CONSTRUÇÃO E MATERIAIS:
O conector deve ter o projeto, construção, dimensões físicas e materiais especificados no desenho de vendas aplicável.
● DESEMPENHO E DESCRIÇÃO DO TESTE:
3.1 Requisito de desempenho: O conector deve ser projetado para atender aos requisitos de desempenho elétrico, mecânico e ambiental especificados no parágrafo 5
3.2 Tensão nominal: 40 V CA
3.3 Corrente nominal: 0,5A
3.4 Faixa de temperatura operacional: -20℃ a +85℃
● REQUISITOS E PROCEDIMENTOS DE TESTE
| ITEM DE TESTE | CONDIÇÃO DE TESTE | REQUERIMENTO |
| Aparência | Inspeção visual | Atender aos requisitos de desenho do produto.Nenhum dano físico. |
| DESEMPENHO ELÉTRICO | ||
| Resistência de contato de baixo nível | Conector acoplado, Contatos: medido por circuito seco, 20mV máx.,10mA.(EIA-364-23) Invólucro: medido por circuito aberto,5V máx.,100mA. | Contato: 30mΩ máx.; Invólucro: 50mΩ máx. |
| Tensão suportável dielétrica | Conectores não acoplados, aplique 500 V CA (RMS.) por 1 minuto entre terminal adjacente ou terra.Conectores acoplados, aplique 300 V CA (RMS.) por 1 minuto entre terminal adjacente ou terra. (EIA-364-20) | Sem avaria |
| Resistência de isolamento | Conectores não acoplados, aplique 500 Vcc entre terminal adjacente ou terra.Conectores acoplados, aplique 150 Vcc entre terminal adjacente ou terra. (EIA-364-21) | 100MΩ Min.(Sem acoplamento), 10MΩ Min. (Acoplado) |
| Avaliação atual do contato | 55℃ máx.ambiente, 85℃ máx.mudança de temperatura. (EIA-364-70, TP-70) | 0,5A Mín. |
| Classificação de Tensão Aplicada | 40V AC(RMS.) máximo contínuo, em qualquer pino de sinal em relação à blindagem. | Sem avaria |
| Descarga Eletrostática | Teste conectores não acoplados de 1kVolt a 8kVolts em etapas de 1kVolt usando uma sonda esférica de 8 mm.(IEC61000-4-2) | Nenhuma evidência de descarga nos contatos em 8kVolts. |
| Atenuação | 300KHz - 825MHz: -8db 828MHz - 2.475GHz: -21db 2,475 GHz - 4,125 GHz: -30 db Teste de conformidade HDMI Especificação Teste ID 5-7 | ＜-8db (300KHz - 825MHz) ＜-21db (828MHz - 2.475GHz) ＜-30db (2.475GHz - 4.125GHz) |
| TMDS sinaliza impedância no domínio do tempo | Área do conector: Tipo A: 100Ω+-10% Área de Transição: 100Ω+-10% Área do cabo: 100Ω+-5% | 100Ω +/- 10% |
| Sem descarga @8KV ar @4KV contato | Sem descarga @8KV ar @4KV contato | Sem evidência de quitação |
| DESEMPENHO MECÂNICO | ||
| Força de Inserção/Força de Retirada | Insira e retire os conectores a uma taxa de 25±3mm por minuto (EIA-364-13) | Força de inserção: 44,1 N máx.;Força de retirada: 9,8~39,2N; |
| Resistência da Trava | Conector acoplado, aplique força de extração axial na direção axial na taxa de velocidade de 13 mm/minuto até que a trava seja desengatada ou danificada. (EIA-364-98) | Força de tração: 49,0N Min.Nenhum dano em ambos os conectores. |
| Força de Retração do Terminal | Montado no invólucro a uma taxa de 25±3 mm por minuto | 2,94N Min. |
| Durabilidade | Meça o contato e a resistência do invólucro após o seguinte.Ciclagem automática: 10.000 ciclos a 100±50 ciclos por hora (EIA-364-09) | Contato de resistência: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| vibração | Amplitude: 1,52mm PP ou 147m/s2｛15G｝ Tempo de varredura: 50-2000-50 Hz em 20 minutos.Duração: 12 vezes em cada eixo X,Y e Z (total de 36 vezes).Carga elétrica: A corrente DC 100mA deve fluir durante o teste.(EIA-364-28 Condição III Método 5A) | Resistência de contato: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| DESEMPENHO AMBIENTAL | ||
| Choque térmico | 10 ciclos de: a)-55℃ por 30 minutos;b)+85℃ por 30 minutos;(EIA-364-32, Condição I) | Contato de resistência: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| Temperatura baixa | Nenhum dano físico e elétrico anormal
Temperatura: -25 graus Duração: 250 horas | Nenhum dano físico;Resistência de contato: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| Maresia | Conectores acoplados sujeitos a 35+/-20C e 5+/-1% de condição de sal por 48 horas.Após o teste, lave a amostra com água e recondicione a temperatura ambiente por 1 hora. (EIA-364-26B) | Nenhuma corrosão prejudicial é permitida na área de contato e no metal base exposto. |
| Umidade | (A) Conecte os conectores e execute o teste da seguinte forma: Temperatura: +25 a +85℃;Umidade Relativa: 80 a 95%;Duração: quatro ciclos (96 horas);Após a conclusão do teste, as amostras devem ser condicionadas em condições ambientais por 24 horas, após as quais as medições especificadas devem ser realizadas (EIA-364-31) | Nenhum dano;Resistência de contato: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| (B) Conectores não acoplados juntos e execute o teste da seguinte forma: Temperatura: +25 a +85℃;Umidade Relativa: 80 a 95%;Duração: quatro ciclos (96 horas);Após a conclusão do teste, as amostras devem ser condicionadas em condições ambientais por 24 horas, após as quais as medições especificadas devem ser realizadas (EIA-364-31) | Nenhum dano;Em conformidade com o item de Tensão Dielétrica Suportada e Resistência de Isolamento | |
| Envelhecimento Térmico | Conectores acoplados e expostos a +105±20C por 250 horas.Após a conclusão do período de exposição, as amostras de teste devem ser condicionadas à condição ambiente por 1 a 2 horas, após o que as medições especificadas devem ser realizadas.(EIA-364-17, condição 4, método A) | Nenhum dano;Resistência de contato: Contato: Alteração do valor inicial = 30mΩ Máx.;Shell: Mudança do valor inicial = 50mΩ máx. |
| capacidade de solda | Mergulhe as pontas de solda na solda derretida (mantida a 245 ± 3 ℃) até 1,2 mm da parte inferior do invólucro por 3 a 5 segundos. | 95% da área imersa não deve apresentar vazios, orifícios |
| Resistência ao Calor de Solda | Consulte o método de soldagem;As condições especificadas no parágrafo 5 devem ser repetidas duas vezes | Sem Danos |
● CONDIÇÃO DE REFLUXO INFRAVERMELHO RECOMENDADA:
Gráfico de condição de temperatura
● SEQUÊNCIA DE TESTE
| Item | Grupo de teste | |||||||||
| G1 | G2 | G3 | G4 | G5 | G6 | G7 | G8 | G9 | G10 | |
| Aparência | 1,4 | 1,5,9 | 1,5,8 | 1,3 |
| 1 | 1,4 | 1,4 | 1,4 | 1,4 |
| Resistência de contato de baixo nível | 2,5 | 2,6,10 | 6,9 |
|
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| 2,5 | 2,5 |
| 2,5 |
| Tensão suportável dielétrica |
|
| 2 |
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|
|
|
| Resistência de isolamento |
|
| 3 |
|
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|
|
|
| Avaliação atual do contato |
|
|
| 2 |
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|
| Classificação de Tensão Aplicada |
|
|
| 4 |
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|
|
|
| Descarga Eletrostática |
|
|
|
|
| 4 |
|
|
|
|
| TMDS sinaliza impedância no domínio do tempo |
|
|
|
|
| 2 |
|
|
|
|
| Atenuação |
|
|
|
|
| 3 |
|
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|
|
| Força de inserção/Força de retirada (sem travas) |
| 3,7,11 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Resistência da Trava |
| (6) |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Força de Retração do Terminal |
|
|
|
| 1 |
|
|
|
|
|
| Durabilidade |
| 4,8 |
|
|
|
|
|
|
|
|
| vibração | 3 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| Choque térmico |
|
| 4 |
|
|
|
|
|
|
|
| Temperatura baixa |
|
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
| Umidade |
|
| 7 |
|
|
|
|
|
|
|
| Envelhecimento Térmico |
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
|
| Maresia |
|
|
|
|
|
|
| 3 |
|
|
| capacidade de solda |
|
|
|
|
|
|
|
| 2 |
|
| Resistência ao Calor de Solda |
|
|
|
|
|
|
|
| 3 |
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| Número de Amostras (CONJUNTOS) | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 |
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NOTAS: Os números indicam a sequência na qual os testes são realizados.
